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＜図書＞
Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns
| 責任表示 | by Said Hamdioui |
|---|---|
| シリーズ | Frontiers in electronic testing ; 26 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Boston : Kluwer Academic , c2004 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xx, 221 p. ; 25 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図2F 開架 | 549.7/H 22 | 2004 |
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025212004001627 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Hamdioui, Said |
| 件 名 | LCSH:Random access memory -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7895.M4 DC22:004.5/3 |
| 書誌ID | 1000020101 |
| ISBN | 1402077521 |
| NCID | BA67959580 |
| 巻冊次 | ISBN:1402077521 |
| 登録日 | 2004.07.29 |
| 更新日 | 2004.07.29 |