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<Book>
粉末X線解析の実際
フンマツ Xセン カイセキ ノ ジッサイ

Responsibility 中井泉, 泉富士夫編集
Material Type Book
Edition 第2版
Publisher 東京 : 朝倉書店
Year 2009.7
Language Japanese
Size ix, 283p, 図版 [2] 枚 ; 26cm
Table of Contents 粉末X線回折法の原理を理解しよう
粉末X線回折データを測定する
粉末X線回折データを読む
粉末X線回折データ解析の基礎
X線回折応用技術
これだけは知っておきたい結晶学
リートベルト法
構造解析のための回折データを測定する
RIETAN‐FPを使ってみよう
MEMによる解析
リートベルト解析に取り組む人へのアドバイス
粉末結晶構造解析
実例で学ぶ粉末X線解析
粉末X線解析に役立つ標準試料とデータベース
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Holdings


SciTech 1F Open Stacks 459.92/N 34 2009
031112009007863

CHIKUSHI LIB., 1D, Japanese Books, Class Codes 400-499 459.92/N 34 2018
160012020001173

SciTech Assigned Books 459.92/N 34 2009
003112009009304

SCIENCE 459.92/N 34 2011
011112014000301

The Ultramicroscopy Research Center 459.92/N 71 2009
027112009000188

Inst. Mater. Chem. and Eng.[ITO] 459.92/N 34 2011
011112013000526

International Institute for Carbon-Neutral Energy Research 459.92/N 34 2015
037112015000455

ENGINEERING Library of Applied Chemistry 459.92/N 71 2013
037112014000237

Bibliographic details

Other titles variant access title:粉末X線解析の実際
Notes 執筆者: 赤坂正秀 [ほか]
文献: 節末
Authors 中井, 泉 <ナカイ, イズミ>
泉, 富士夫 <イズミ, フジオ>
Subjects BSH:エックス線結晶学
NDLSH:エックス線回折
Classification NDC8:459.92
NDC9:459.92
NDC9:433.57
ID 1001391689
ISBN 9784254140828
NCID BA90726947
Vol ISBN:9784254140828 ; PRICE:5800円+税
Created Date 2009.11.02
Modified Date 2020.07.31

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