| 作成者 |
|
| 本文言語 |
|
| 出版者 |
|
| 発行日 |
|
| 収録物名 |
|
| 収録物名 |
|
| 巻 |
|
| 開始ページ |
|
| 終了ページ |
|
| 出版タイプ |
|
| アクセス権 |
|
| 関連DOI |
|
|
|
| 関連URI |
|
|
|
| 関連情報 |
|
|
|
| 概要 |
Circumstances of semiconductor integrated circuits including system LSIs are largely changing. There are three big categories of the changes: 1) Change of Physical Restrictions 2) Change of Logical Re...strictions 3) Change of Social Requirements In this paper, we discuss new directions of design and test technologies from the following viewpoints. 1) Challenges for Physical Limitation 2) Challenges for Increase of Logical Complexity 3) Challenges for Creation of New Value Chain
システムLSIのテストは、微細化・高速化・複雑化 によるテスト項目やテスト対象の変化とテスト時間の 増大という問題に直面している。プロセス変動や電源 電圧・クロック周波数の動的制御などによる設計パラ メーターの複雑化への対応と製造、検査、解析を考慮 した設計技術など今後の技術課題と動向を概観する。続きを見る
|
Mendeley出力
yasuura05_2