偏光走査近接場光学顕微鏡による結晶性高分子薄膜の局所構造評価

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偏光走査近接場光学顕微鏡による結晶性高分子薄膜の局所構造評価

フォーマット:
助成・補助金
Kyushu Univ. Production 九州大学成果文献
責任表示:
高原 淳(九州大学・工学部・助教授)
本文言語:
日本語
研究期間:
1998
概要(最新報告):
ポリエチレン球晶薄膜の走査フォース顕微鏡および偏光下での近接場光学顕微鏡(NSOM)観察を行った。 重量平均分子量、Mw=520kの多分散ポリエチレンの1wt%p-xylene溶液よりポリエチレンの薄膜を調製後、融解、結晶化し、直径数十μmの球晶を有する薄膜を調製した。この薄膜をファーフィールドの偏光顕微鏡で観察し、明確な消光リングとマルターゼクロスを観察した。この薄膜のトポグラフィー像および偏光NSOM像(透過モード)を、近接場光学顕微鏡を用いて観察した。光源として、アルゴンレーザー(波長488nm)を用いた。偏光観察の場合、光ファイバーに入射直前にλ/4板を挿入して、プローブからの出射光を直線偏光にした。またフォトマル直前の検光子は直交ニコルの状態にセットした。この条件での偏光比は1:15であった。トポグラフィー像には消光リングに対応した凹凸が観察された。これはラメラのねじれに対応すると考えられる。一方、偏光NSOM像には、消光リングに対応する明暗が明確に観察された。 続きを見る
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