X線異常分散効果のパーシャルパターソン法への応用

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X線異常分散効果のパーシャルパターソン法への応用

フォーマット:
助成・補助金
Kyushu Univ. Production 九州大学成果文献
責任表示:
副島 雄児(九州大学・理学部・助教授)
本文言語:
日本語
研究期間:
1992
概要(最新報告):
本研究は、研究代表者がこれまでにシンクロトロン放射光を用いて行ってきた、X線異常分散効果を用いた新しい結晶構造解析の開発に関する研究の予備実験、およびその一部を、通常のX線発生装置を用いて、研究室レベルで行なおうとするものである。本研究は、従って、それ自体が独立したものではなく、シンクロトロン放射光を用いた研究に対して、相補的・補助的なものである。 当該年度は、既存のX線発生装置と4軸型自動X線回折計(システム自作)に、給付された金額内でより有効なシステムを完成させるためにモノクロメータ系を整備した。モノクロメータ系はコンピュータコントロールが可能で、白色X線を用いた場合、0.6〜2.0A^^゚程度の波長が自由に選択できる必要があり、これを満足するよう、ソフトウエアーおよび結晶ホルダーを開発した。テストの結果、モノクロメータからの単色X線(但し、高調波を含む)の状態は良好で、充分実験に使用できることを確認したが、今後、長期間の安定性を問うならば、モノクロメータ結晶の温度コントロールを付加する必要があると思われる。 得られるデータの処理・解析方法はすでに開発しており、今後、実験が始動すればただちに結果が得られる。この研究は、研究代表者がドイツザールランド大学のK.F.Fisher教授との共同研究で独自に開発したもので、シンクロトロン放射光による初期の実験が完了したところである。従って、世界的にもまだ同様の研究は例がなく萠芽的で、独創的なものであり、今後の発展が期待されている。 続きを見る
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