レーザー分光法による光励起表面脱離粒子の速度計測

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レーザー分光法による光励起表面脱離粒子の速度計測

フォーマット:
助成・補助金
Kyushu Univ. Production 九州大学成果文献
責任表示:
前田 三男(九州大学・工学部・教授)
本文言語:
日本語
研究期間:
1992
概要(最新報告):
プロセス中の気相素過程における中間反応種のin Situな計測法として,レーザー分光法は大変有用である。本研究ではレーザー誘起蛍光(LIF)法と共鳴多光子イオン化(REMPI)法を用いて,光プロセス中の温種ラジカルの密度や速度分布を,高い時間・空間分解能で計測する技術を開発し,表面との反応を含めたプロセス動力学の解明を行なおうとするものである。 本年度は本重点領域研究の最終年度にあたるが,さらにLIF法を表面相互作用の計測に拡張するため,レーザーアブレションの際の放出粒子の速度分布等をLIFとTOF(飛行時間測定)を組合せた方法で解明する研究を行った。これまでの主な成果をまとめると以下の通りである。 1.ジシランのArFレーザによる一光子分光解によって生成した各種ラジカルを,LIFとREMPI(共鳴多光子イオン化法)で観測し,その拡散・反応過程を研究した。測定したのは,Si,Si^*,SiH,Si_2,HでSiH_3は検知することができなかった。 2.高温超伝導膜生成の際に重要なArFレーザでアブレイトしたYBaCuOプルーム中のBa,BaO,YOなどの粒子をLIF-TOF計測し,その速度分を求めた。 3.ArFレーザーでアブレイトした粒子群のガス中での運動や基板近傍ディテクターアレイでそのLIFを見ることによって一次元的に観測した。 続きを見る
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類似資料:

11
プラズマ中の電界のレーザー分光法による新しい計測法に関する研究 by 金, 正培; 幾竹, 択弥; Kim, Hee-Jae; Bowden, Mark D; 村岡, 克紀; Kim, Jung-Bae; Ikeue, Takuya; Muraoka, Katsunori
11.
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