蛍光X線スキャナにHgI_2半導体検出器使用するための基礎研究

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蛍光X線スキャナにHgI_2半導体検出器使用するための基礎研究

フォーマット:
助成・補助金
Kyushu Univ. Production 九州大学成果文献
責任表示:
吉村 厚(九州大学・医学部・講師)
本文言語:
日本語
研究期間:
1980
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