<紀要論文>
XPSによるジルカロイ自然酸化膜中におけるSnの化学状態の研究
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概要 | The depth profile of the chemical state of tin in the natural oxide layer formed on zircaloy-4 has been investigated by angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). It was found that the met...allic tin exists in the natural oxide layer.続きを見る |
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登録日 | 2010.03.09 |
更新日 | 2020.11.02 |