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＜紀要論文＞
XPSによるジルカロイ自然酸化膜中におけるSnの化学状態の研究
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| 概要 | The depth profile of the chemical state of tin in the natural oxide layer formed on zircaloy-4 has been investigated by angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). It was found that the met...allic tin exists in the natural oxide layer.続きを見る |
詳細
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| NCID | |
| 登録日 | 2010.03.09 |
| 更新日 | 2020.11.02 |