Microscopy of semiconducting materials 1995 : proceedings of the Institute of Physics Conference held at Oxford University, 20-23 March 1995

＜図書＞
Microscopy of semiconducting materials 1995 : proceedings of the Institute of Physics Conference held at Oxford University, 20-23 March 1995

責任表示	edited by A.G. Cullis and A.E. Staton-Bevan
シリーズ	Institute of Physics conference series ; no. 146
データ種別	図書
出版者	Bristol ; Philadelphia : Institute of Physics Pub.
出版年	1996
本文言語	英語
大きさ	xvii, 795 p. : ill. : 24 cm
概要	This volume provides researchers with an overview of developments in the field. Contains invited review papers together with in-depth coverage of the latest research results. Encompassing techniques f...om transmission & scanning electron microscopy, X-ray topography & diffraction, scanning probe microscopy & atom probe microanalysis, as applied to the whole range of semiconducting materials. 続きを見る

状態	巻次	所蔵場所	請求記号	刷年	文庫名称	資料番号	コメント	予約・取寄	複写申込	自動書庫
		【故障中】理系図自動書庫	428.8/C 95/54960095	1995		054211996000951		予約・取寄		出庫可能	予約・取寄		出庫可能
		[伊]超顕微解析	170			068252195011553

一般注記	Includes bibliographical references and index
著者標目	Cullis, A. G. Staton-Bevan, A. E.
件　名	LCSH:Semiconductors -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Electron microscopy -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:QC610.9 DC20:537.6/221
書誌ID	1001399862
ISBN	0750303476
NCID	BA2719377X
巻冊次	ISBN:0750303476
登録日	2009.11.02
更新日	2009.11.02