<図書>
半導体部品の信頼性に関する調査・検討
ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ ニ カンスル チョウサ ケントウ
責任表示 | 宇宙開発事業団編 |
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シリーズ | 宇宙開発事業団契約報告 ; NASDA-CNT 970089, 990012, 000042 |
データ種別 | 図書 |
出版者 | 東京 : 宇宙開発事業団 |
出版年 | 1998.3-2001.1 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | 3冊 ; 30cm |
所蔵情報
状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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[その1] | 【故障中】理系図 自動書庫 | 1998 |
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027132004040937 |
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[その1] | 【故障中】理系図 自動書庫 | 1998 |
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031112016602445 |
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その2 | 【故障中】理系図 自動書庫 | 1999 |
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027132004044710 |
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その2 | 【故障中】理系図 自動書庫 | 1999 |
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031112016603397 |
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その3 | 【故障中】理系図 自動書庫 | 2001 |
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027132004046435 |
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その3 | 【故障中】理系図 自動書庫 | 2001 |
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031112007500474 |
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書誌詳細
別書名 | 標題紙タイトル:Study on the reliabilities of the semiconductor device |
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一般注記 | 作成元: 沖エンジニアリング [その1]: 1998年3月 |
著者標目 | 宇宙開発事業団 <ウチュウ カイハツ ジギョウダン> |
書誌ID | 1001271619 |
NCID | BA68550018 |
巻冊次 | [その1] その2 その3 |
登録日 | 2009.09.18 |
更新日 | 2009.09.18 |