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＜図書＞
Microscopy of semiconducting materials, 1989 : proceedings of the Royal Microscopical Society conference held at Oxford University, 10-13 April 1989
| 責任表示 | edited by A.G. Cullis and J.L. Hutchison |
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| シリーズ | Institute of Physics conference series ; no. 100 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版者 | Bristol, England ; New York : Institute of Physics |
| 出版年 | c1989 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xvi, 831 p. : ill. ; 25 cm |
| 概要 | Microscopy of Semiconducting Materials 1989 brings together both the invited & contributed papers from this conference. The main subject areas covered include: high resolution microscopy, microanalys...s, epitaxial layers, quantum wells & superlattices, bulk GaAs, X-ray studies, dielectric structures, silicides & metal-semiconductor contacts, device studies & advanced scanning microscopy techniques. This volume provides an indispensable guide for researchers in physics, materials science, electronics & electrical engineering. 続きを見る |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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筑紫図 1B 会議録 | 420.8/I 57/100 | 1989 |
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067232006001320 |
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[伊]超顕微解析 | 108 | 1989 |
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068252189011998 |
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書誌詳細
| 著者標目 | Cullis, A. G. Hutchison, J. L. Royal Microscopical Society (Great Britain) |
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| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Congresses
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LCSH:Electron microscopy -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QC610.9 DC20:537.6/221 |
| 書誌ID | 1001114055 |
| ISBN | 0854980563 |
| NCID | BA07745046 |
| 巻冊次 | ISBN:0854980563 ; PRICE:£75.00 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |