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＜図書＞
電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法
デンシセン マイクロ アナリシス : ソウサ デンシ ケンビキョウ Xセン マイクロ アナライザ ブンセキホウ
| 責任表示 | 副島啓義著 |
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| データ種別 | 図書 |
| 出版者 | 東京 : 日刊工業新聞社 |
| 出版年 | 1987.2 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | x,597,5p ; 27cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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【故障中】理系図 自動書庫 | D/So | 1987 |
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068251189014737 |
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工機械 精密加工1 | 533/C/SOE | 1987 |
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068251187002525 |
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応研 研究室 | 427/So 22 | 1987 |
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071132000102497 |
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書誌詳細
| 一般注記 | 引用・参考文献:p.592-597 |
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| 著者標目 | 副島, 啓義(1939-) <ソエジマ, ヒロヨシ> |
| 件 名 | BSH:光学分析 BSH:エックス線分光分析 NDLSH:エックス線分光分析 NDLSH:微量分析 |
| 分 類 | NDC8:433.5 NDLC:PA124 |
| 書誌ID | 1001046186 |
| ISBN | 4526021008 |
| NCID | BN00749109 |
| 巻冊次 | ISBN:4526021008 ; PRICE:15000円 |
| NBN | JP87022362 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |