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＜図書＞
Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope
| 責任表示 | R.F. Egerton |
|---|---|
| データ種別 | 図書 |
| 出版者 | New York : Plenum Press |
| 出版年 | c1986 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xii, 410 p. : ill. ; 24 cm |
| 概要 | The Second Edition explores several new applications of EELS developed during the last ten years. Chapters include recent progress in parallel-recording detectors and image-filtering systems as well ...s spectral fine structure. This edition also features updated computer programs which will perform spectrum deconvolution and compute partial ionization cross-sections. 続きを見る |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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【故障中】理系図 自動書庫 | B/Eg | 1986 |
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068252186007085 |
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[伊]超顕微解析 | 90 | 1986 |
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068252186013238 |
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総理工 研究室 | 549.97/E 28 | 1986 |
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062231998010196 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Bibliography: p. 377-406 Includes index |
|---|---|
| 著者標目 | *Egerton, R. F. |
| 件 名 | LCSH:Electron energy loss spectroscopy LCSH:Electron microscopy |
| 分 類 | LCC:QC454.E4 DC19:535/.3325 NDLC:MC93 |
| 書誌ID | 1000972725 |
| ISBN | 0306421585 |
| NCID | BA00349732 |
| 巻冊次 | ISBN:0306421585 |
| 登録日 | 2009.09.16 |
| 更新日 | 2009.09.17 |