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<図書>
Microscopy of semiconducting materials 1991 : proceedings of the Institute of Physics conference held at Oxford University, 25-28 March 1991

責任表示 edited by A.G. Cullis and N.J. Long
シリーズ Institute of Physics conference series ; no. 117
データ種別 図書
出版者 Bristol ; New York : Institute of Physics
出版年 c1991
本文言語 英語
大きさ xix, 801 p. ; ill. ; 24 cm
概要 This volumes covers the application of transmission & scanning electron microscopy to the study of the structural & electrical properties of semiconducting materials. Materials discussed span the rang... of elemental & compound semiconductors. Of interest to researchers in condensed matter physics, materials science & device physics. 続きを見る

所蔵情報


筑紫図 1B 会議録 420.8/I 57/117 1991
062231998006628

[伊]超顕微解析 117 1991
068252191010710

書誌詳細

一般注記 Sponsored by the Electron Microscopy and Analysis Group of the Institute of Physics, the Royal Microscopical Society, and the Materials Research Society
Includes bibliographical references and indexes
著者標目 Cullis, A. G.
Long, N. J.
Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group
Royal Microscopical Society (Great Britain)
Materials Research Society
件 名 LCSH:Semiconductors -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Electron microscopy -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Materials -- Microscopy -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Epitaxy -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Silicon crystals -- Congresses  全ての件名で検索
分 類 LCC:QC610.9
DC20:620.1/12972
書誌ID 1000967429
ISBN 0854984062
NCID BA13491292
巻冊次 ISBN:0854984062
登録日 2009.09.16
更新日 2009.09.16

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