<図書>
Defects and properties of semiconductors : defect engineering
責任表示 | edited by J. Chikawa, K. Sumino, and K. Wada |
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シリーズ | Advances in solid state technology |
データ種別 | 図書 |
出版者 | Tokyo : KTK Scientific |
出版者 | Dordrecht ; Boston : D. Reidel |
出版者 | Norwell, MA, U.S.A. : Distributed in the U.S.A. and Canada by Kluwer Academic |
出版年 | c1987 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | vi, 261 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報
状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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芸工図 2F 工学図書室 | 549.8/C44 | 1987 |
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072032187000154 |
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書誌詳細
一般注記 | Includes bibliographies and index "Papers presented at the Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" which was held in Tokyo on May 17-18, 1984 under the sponsorship of the Society of Non-Traditional Technology"--Pref |
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著者標目 | Chikawa, J. (Junichi), 1930- Sumino, K. (Kōji), 1931- Wada, K. (Kazumi), 1950- Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" (1984 : Tokyo, Japan) Society of Non-Traditional Technology (Japan) |
件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:QC611.6.D4 DC19:621.3815/2 |
書誌ID | 1000911471 |
ISBN | 9027723524 |
NCID | BA0364350X |
巻冊次 | ISBN:9027723524 |
登録日 | 2009.09.16 |
更新日 | 2009.09.16 |