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＜図書＞
Principles of analytical electron microscopy
| 責任表示 | edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr. and Joseph I. Goldstein |
|---|---|
| データ種別 | 図書 |
| 出版者 | New York : Plenum Press |
| 出版年 | c1986 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xvi, 448 p. ; 26 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図2F 開架 | 549.97/J 84 | 1986 |
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068252188001250 |
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【故障中】理系図 自動書庫 | 459.8/J 84 | 1986 |
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068222190001945 |
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[伊]超顕微解析 | 88 | 1986 |
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068252186013214 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
|---|---|
| 著者標目 | Joy, David C., 1943- Romig, Alton D. Goldstein, Joseph, 1939- |
| 件 名 | LCSH:Electron microscopy |
| 分 類 | LCC:TA417.23 DC19:502/.8/25 |
| 書誌ID | 1000472055 |
| ISBN | 0306423871 |
| NCID | BA00591396 |
| 巻冊次 | ISBN:0306423871 |
| 登録日 | 2009.09.14 |
| 更新日 | 2009.09.17 |