<図書>
X線回折・散乱技術
Xセン カイセツ ・ サンラン ギジュツ
責任表示 | 菊田惺志著 |
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シリーズ | 物理工学実験 ; 15 |
データ種別 | 図書 |
出版者 | 東京 : 東京大学出版会 |
出版年 | 1992.6 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | xi, 274p ; 21cm |
所蔵情報
状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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上 | 中央図 4A | 420.75/B 97/58980506 | 1996 |
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058111998005068 |
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上 | 理系図2F 開架 | 501.2/B 97/(15) | 1992 |
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068221192001387 |
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上 | 筑紫図 1D 和400-499 | 427.55/Ki 31 | 1996 |
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067112000003602 |
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上 | シ情 電気シス[BF14] | 425.4/Kik | 1992 |
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068251192005555 |
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書誌詳細
別書名 | 標題紙タイトル:X-ray diffraction and scattering |
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一般注記 | 参考書・引用文献: 上: p267-269 |
著者標目 | 菊田, 惺志(1938-) <キクタ, セイシ> |
件 名 | BSH:エックス線 BSH:回折 NDLSH:エックス線 -- 回折 全ての件名で検索 |
分 類 | NDC8:427.55 NDLC:MC231 |
書誌ID | 1000253760 |
ISBN | 4130630350 |
NCID | BN0769766X |
巻冊次 | 上 ; ISBN:4130630350 ; PRICE:3296円 |
NBN | JP92049275 |
登録日 | 2009.09.11 |
更新日 | 2009.09.17 |