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＜図書＞
Statistical analysis of reliability and life-testing models : theory and methods
| 責任表示 | Lee J. Bain |
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| シリーズ | Statistics : textbooks and monographs ; v. 24 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版者 | New York : M. Dekker |
| 出版年 | c1978 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xii, 450 p. ; 23 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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中央図 自動書庫 | 417.1/B 14/1 | 1978 |
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017232000095030 |
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理系図3F 数理独自 | BAIN/10/1 | 1978 |
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068222480089640 |
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【故障中】理系図 自動書庫 | 105/BAI | 1978 |
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027232003190912 |
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【故障中】理系図 自動書庫 | 418/B 14/1 | 1978 |
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058211981440912 |
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芸工図 2F 書架 | 417/B14 | 1978 |
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072032179005892 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Bibliography: p. 429-438 Includes index |
|---|---|
| 著者標目 | *Bain, Lee J., 1939- |
| 件 名 | LCSH:Reliability (Engineering) -- Statistical methods
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LCSH:Distribution (Probability theory) LCSH:Mathematical statistics |
| 分 類 | LCC:TS173 DC:620/.004/5 |
| 書誌ID | 1000041652 |
| ISBN | 0824776194 |
| NCID | BA10569542 |
| 巻冊次 | ISBN:0824776194 ISBN:0824766652 |
| 登録日 | 2009.09.10 |
| 更新日 | 2009.09.17 |