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＜図書＞
Electron microscopy of thin crystals
| 責任表示 | by Peter Hirsch ... [et al.] |
|---|---|
| データ種別 | 図書 |
| 版 | 2nd rev. ed |
| 出版者 | Malabar, Fla. : R. E. Krieger |
| 出版年 | 1977 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xi, 563 p. : ill. ; 25 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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[伊]超顕微解析 | 549.97/H 75 | 1977 |
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025212004005537 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Reprint of the 1967 issue of the ed. published by Butterworths, London Includes bibliographies and indexes |
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| 著者標目 | *Hirsch, Peter Bernhard |
| 件 名 | LCSH:Crystallography LCSH:Electron microscope LCSH:Electrons -- Diffraction 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QD921 DC:548/.9 |
| 書誌ID | 1000021877 |
| ISBN | 0882753762 |
| NCID | BA07411528 |
| 巻冊次 | ISBN:0882753762 |
| 登録日 | 2005.03.10 |
| 更新日 | 2005.03.10 |