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＜図書＞
Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the Seventh International Conference on Defect Recognition and Image Porcessing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7-10 September, 1997
| 責任表示 | edited by J. Donecker and I. Rechenberg |
|---|---|
| シリーズ | Institute of Physics conference series ; no. 160 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版者 | Bristol : Institute of Physics |
| 出版年 | c1998 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xx, 524 p. ; 24 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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[伊]超顕微解析 | 193 | 1998 |
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025211998001757 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (7th : 1997 : Templin, Germany) Donecker, J. Rechenberg, I. |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses
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| 分 類 | LCC:TK7871.85 DC21:621.3815/2 |
| 書誌ID | 1000009462 |
| NCID | BA37250687 |
| 登録日 | 1998.10.20 |
| 更新日 | 1998.10.20 |