<図書>
Defect recognition in semiconductors before and after processing : proceedings of the fourth International Conference, Wilmslow, UK, 18-22 March, 1991
責任表示 | edited by M.R. Brozel, D.J. Stirlnd |
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データ種別 | 図書 |
出版者 | New York : Adam Hilger |
出版年 | 1992 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | 310 p. : ill. (some col.) ; 31 cm |
所蔵情報
状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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[伊]超顕微解析 | 123 | 1992 |
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068252192002512 |
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書誌詳細
一般注記 | Includes bibliographical references |
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著者標目 | *International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (4th : 1991 : Wilmslow, England) Brozel, M. R. (Michael R.) Stirland, D. J. (Derek J.) |
件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses
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LCSH:Photoluminescence -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Gallium arsenide semiconductors -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TK7871.85 DC20:621.3815/2/0287 |
書誌ID | 1000001933 |
NCID | BA18215463 |
登録日 | 1993.03.10 |
更新日 | 1996.03.07 |