<図書>
EXAFS : basic principles and data analysis
責任表示 | Boon K. Teo |
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シリーズ | Inorganic chemistry concepts ; v. 9 |
データ種別 | 図書 |
出版者 | Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag |
出版年 | c1986 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | xviii, 349 p. : ill. ; 25 cm |
所蔵情報
状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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us | 理系図1F 開架 | 427.55/Te 38/1 | 1986 |
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068582189018916 |
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gw | 筑紫図 1C-1D 洋400-499 | 427.55/Te 38 | 1986 |
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060212016001183 |
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書誌詳細
一般注記 | Bibliography: p. [223]-284 Includes index |
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著者標目 | *Teo, B. K. |
件 名 | LCSH:Extended X-ray absorption fine structure |
分 類 | LCC:QC482.S6 DC19:539.7/222 NDLC:MC231 NDC8:427.55 |
書誌ID | 1000001300 |
ISBN | 0387158332 |
NCID | BA00175234 |
巻冊次 | us ; ISBN:0387158332 gw ; ISBN:9783642500336 ; XISBN:3540158332 |
登録日 | 1990.08.10 |
更新日 | 2017.01.27 |